Создана методика улучшения атомно-силовой микроскопии

Стало известно, что команда специалистов презентовала совершенно новый способ, чтобы улучшить атомно-силовую микроскопию.

Как сообщает ToDay News Ufa, исследователи рассказали, что для того, чтобы получить рисунок высоты, необходимо применить сканирование поверхностей материалов. Однако при всем это данный механизм не способен с точностью выяснить молекулярный состав материалов.

В процессе научного исследования специалисты смогли разработать устройство, которое может добавлять адаптивную коррекцию оптики в коммерческие микроскопы. Согласно мнению экспертов, новая модернизированная техника способна расширить и углубить знания представителей научного сообщества в области биологии.

Ранее мы сообщали о том, что какие привычки могут угнетать работу мозга.

Источник